台积电进军埃米芯片,主攻背面供电

发布日期:2024-07-29 09:57    点击次数:61

(原标题:台积电进军埃米芯片,主攻背面供电)

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来源:内容由半导体行业观察(ID:icbank)编译自经济时报,谢谢。

台积电在今(2024)年北美技术论坛发表A16制程,进军埃米级芯片,将运用「超级电轨」架构,预期能大幅提升芯片效能外,还能在延续摩尔定律前提下,继续打造更微小芯片,其中,「晶背供电方案」更被视为台积电最新黑科技,有望在下一阶段埃米级战争中取得领先优势,而不少国际大厂也正投入布局,对此,《经济日报》整理相关资讯,供读者参考比较。

根据台积电官网资讯指出,目前研发中的A16制程是下一代的纳米片(Nanosheet)电晶体技术,并采用独家「超级电轨」技术( SPR ;Super Power Rail),其中,包含背面供电解决方案。

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晶背供电是什么?

由于原先技术利用后段制程,在硅晶圆正面进行IC 等元件堆叠,相关电源线、讯号线亦是如此,不过,随着层数越多,除了芯片本身的散热问题会被更加凸显外,供电系统进入后段制程复杂度增加,同时,也会有IR压降(IR Drop)升高的风险,若IR压降无控制,严重恐导致芯片出「Bug」,不仅如此,大部分元件集中在正面,也无助于进一步缩减芯片尺寸。

对此,晶圆背面供电( BSPDN ;Backside power delivery networks ),就是把配电网路(PDN)移到晶圆「背面」,以台积电SPR 架构说明,利用示意图红区图示中「VB」(通孔接触;通常指硅穿孔(TSV)),透过埋入式电源轨( BPR;Buried Power Rail),将电源传至电子元件、前端IC等,此模式相较正面透过VD(导线)连接,可在晶圆正面释出更多讯号网路的布置空间,借以提升逻辑密度和效能,同时也能减低IR Drop,整体制作过程良率也会较其他方案来的高一些。

台积电A16制程晶背供电方案示意图。图源:经济日报

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超级电轨架构显优势

套用在产品A16制程上,结合2纳米的纳米片电晶体,根据台积电提供数据指出,速度将提升8至10%,功耗降低15至20%,芯片密度则提升至最高1.1倍,预期2026年就会正式投产。台积电亚太业务处长万睿洋先前曾在技术论坛上喊出「3D封装达到超过1兆个电晶体」也将不再是梦。

此外,台积电说明,自家独特的backside contact 技术,能够维持与传统正面供电下相同的闸极密度(Gate Density) 、布局版框尺寸(Layout Footprint)和元件宽度调节的弹性,因此可以提供最佳的密度和速度上的优势,这也是业界首创的技术。

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背面电轨成显学半导体巨头抢进布局

推进芯片技术节点,不仅台积电磨刀霍霍,国际研究中心比利时微电子研究中心(imec)、英特尔(Intel)、三星(Samsung)都推出新架构、技术,并着墨背面电轨技术,尤其Intel、 Samsung ,更誓言要在这领域弯道超车稳坐晶圆代工霸主台积电。

四大芯片供电技术比较。图源:经济日报

imec

imec 算是领先其余三厂,携手安谋(Arm),在2022年IEEE 国际超大型积体电路技术研讨会(VLSI Symposium)中,发表BSPDN 相关技术,透过BPR 以及纳米级硅穿孔(nTSV)连接、分离电源与讯号源,此技术不仅不会占用标准单元空间,也不会损害电晶体性能。

Intel

作为老牌国际芯片大厂的英特尔不落人后,今(2024)年2月率先发表未来四年5节点计画,其中,就包含搭载晶背供电技术的20A、以及18A制程,前者今年就可拼量产,18A则预估明年投产。

英特尔技术与台积有所不同的地方在于,英特尔并未发展BPR ,而是直接以nTSV 将讯号源传至前方,并称在技术上能达到完全将电源、讯号源分离,既不会产生干扰及减少布线成本和空间,也能降低耗能。

Samsung

当所有人都在布局下一代新节点,理所当然的也不会独漏三星,公司近期在三星晶圆代工论坛」(SFF)上揭示新的晶圆代工方案,其中包括含有BSPDN 的SF2Z,以及SF1.4制程,根据三星指出,前者最快明(2025)年就可以投产。

三星发表最新制程,其中包含晶背供电方案芯片,最快2025年就可投产。图/取自三星官网

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国际大厂跃跃欲试晶背供电仍存疑虑

若实现晶圆背面供电技术的运用,对于芯片技术节点无疑是一大跃进,不仅进一步推升逻辑IC等芯片的升级布置,增加更多空间与效能,因为金属布线减少,取而代之的金属层,将能有效降低功耗,此外,IR压降所需耗费的解决成本降低,未来芯片方案相较之下将更有优势。

不过,随之而来的问题也是显而易见的,首先,跨足晶圆背面,在技术工艺上算是一展新突破,然而在遇到散热问题时,是否也有相关的配套解法?以及,散热解决方案技术是否也能进入晶圆背面仍是未知数,倘若问题没有得到解决,芯片恐面临良率、效能降低等潜在风险。

第二,新方案有新技术,部分方案中将导引金属层置于晶圆背面,排除制程技术障碍,却仍有可能因为晶圆背面供电网路形成拉应力作用,致使金属层剥离,同时,晶背供电的要点之一就是薄化基板,供应链、技术是否跟得上,良率测试等等...,都仍待进一步的规划与研发探讨。

https://money.udn.com/money/story/11162/8083833

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